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超聲波掃描(SAM)
所屬分類
無損檢測
產(chǎn)品描述
簡介：
超聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡稱，又稱為SAM (Scanning Acoustic Microscope)。此檢測為應(yīng)用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來進行分析。 利用純水當介質(zhì)傳輸超聲波信號，當訊號遇到不同材料的界面時會部分反射及穿透，此種發(fā)射回波強度會因為材料密度不同而有所差異，掃描聲學(xué)顯微鏡就是利用此特性，來檢驗材料內(nèi)部的缺陷并依所接收的信號變化將之成像。
目的：
無損檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
應(yīng)用范圍：
塑料封裝IC、晶片、PCB、LED
測試步驟：
確認樣品類型、選擇頻率探頭、放置測量裝置中、選擇掃描模式、掃描圖像、缺陷分析
依據(jù)標準：
IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B
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