檢測(cè)項(xiàng)目

檢測(cè)項(xiàng)目 

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未知異物分析

未知異物分析：主要針對(duì)較難辨別異物類型的情況下進(jìn)行的綜合分析，主要是結(jié)合了有機(jī)異物分析及無機(jī)異物分析的方法。其分析手段主要有以下幾種：分析手段典型應(yīng)用分析特點(diǎn)參考標(biāo)準(zhǔn)紅外光

所屬分類

成分分析



產(chǎn)品描述

未知異物分析：主要針對(duì)較難辨別異物類型的情況下進(jìn)行的綜合分析，主要是結(jié)合了有機(jī)異物分析及無機(jī)異物分析的方法。其分析手段主要有以下幾種：

分析手段	典型應(yīng)用	分析特點(diǎn)	參考標(biāo)準(zhǔn)
紅外光譜FTIR	有機(jī)物定性；有機(jī)污染物分析	能進(jìn)行微區(qū)分析，其顯微鏡測(cè)量孔徑可到8nm或更小，可方便地根據(jù)需要選擇樣品不同部分進(jìn)行分析	GB/T 6040-2002
掃描電子顯微鏡&X射線能譜SEM/EDS	表面微觀形貌觀察；微米級(jí)尺寸量測(cè)；微區(qū)成分分析；污染物分析	能快速的對(duì)各種試樣的微區(qū)內(nèi)Be~U的大部分元素進(jìn)行定性、定量分析，分析時(shí)間短	JY/T 010-1996 GB/T 17359-2012
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS	有機(jī)材料和無機(jī)材料的表面微量分析；表面離子成像；深度剖面分析	優(yōu)異的摻雜劑和雜質(zhì)檢測(cè)靈敏度可以檢測(cè)到ppm或更低的濃度；深度剖析具有良好的檢測(cè)限制和深度辨析率；小面積分析	ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜D-SIMS	有機(jī)材料和無機(jī)材料的表面微量分析；表面離子成像；深度剖面分析	分析區(qū)域小，能分析10nm直徑的異物成分；分析深度淺，可測(cè)量1nm樣品；檢出限高，一般是ppm-ppb級(jí)別	ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009
俄歇電子能譜AES	缺陷分析；顆粒分析；深度剖面分析；薄膜成分分析	可以作表面微區(qū)分析，并且可以從熒光屏上直接獲得俄歇元素像	GB/T 26533-2011
X射線光電子能譜XPS	有機(jī)材料、無機(jī)材料、污點(diǎn)、殘留物的表面分析；表面成分及化學(xué)狀態(tài)信息；深度剖面分析	分析層薄，分析元素廣，可以分析樣品表面1-12nm的元素和元素含量	GB/T 30704-2014